SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-12-19
產(chǎn)品介紹：SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。
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產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
組件類別	光學(xué)元件	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子

SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架

SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。

規(guī)格	SA-Stage-C
尺寸：	Φ150mm×厚10mm
高度：	垂直可調(diào)高度80mm
材質(zhì)：	鋁合金
表面處理：	亞光發(fā)黑
適配產(chǎn)品：	QR系列反射光纖
用途：	專為反射光纖測量而設(shè)計(jì)，能有效固定光纖探頭，防止因抖動(dòng)等人為因素影響檢測效果.

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