低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的確定
1)通過腔衰減時(shí)間測(cè)量,可以非常地測(cè)量反射率值R> 99%,透射率值T> 99%的低損耗光學(xué)元件。 與光譜儀中的測(cè)量相比,該方法有三個(gè)主要優(yōu)點(diǎn):
2)適用于非常高的反射率和透射率
3)不可能獲得高于實(shí)際值的測(cè)量值
4)它具有非常高的精度
基本CRD測(cè)量設(shè)置
Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng),可以穩(wěn)定地控制光學(xué)元件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)和腔體衰減時(shí)間測(cè)量簡(jiǎn)介”。
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相位優(yōu)化fs激光寬帶鏡 - CRD測(cè)量示例
低損耗鏡 - CRD測(cè)量示例
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薄膜偏振器 - CRD測(cè)量示例
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